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擁有蔡司Xradia 800 Ultra X 射線顯微鏡,您可以實現(xiàn)低至50 nm 的空間分辨率,這是業(yè)界實驗室X射線成像系統(tǒng)最優(yōu)的水平。由于無損 3D 成像在如今的突破性研究中有重要的作用,您將會體驗到無與倫比的優(yōu)異性能和靈活性。創(chuàng)新的 Xradia Ultra 系列具有吸收襯度和相位襯度的功能,X射線能量為 8KeV,并使用獨有的由同步輻射光學(xué)器件改造而來的附件。 Xradia 810 Ultra 在研究材料隨時間的演變(4D)中,可實現(xiàn)無與倫比的原位和4D性能,拓展了3D X射線成像技術(shù)在材料科學(xué),生命科學(xué),自然資源和各種工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域的局限。
Xradia 800 Ultra 的最小分辨率低至50 nm,使微觀結(jié)構(gòu)和進(jìn)程可視化,這些是傳統(tǒng)實驗室 X 射線技術(shù)不能實現(xiàn)的。在 X 射線能量為8 KeV下運行,極佳的穿透力和襯度適合各種材料,使您可以觀察自然狀態(tài)下的結(jié)構(gòu)和材料。
集成相位襯度技術(shù)的 Xradia 800 Ultra 運用 Zernike 方法在吸收襯度低時可增強晶界和材料交界處的可見度,使未染色的超結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)可視化。
蔡司Xradia 800 Ultra 采用類似橫切法的無損技術(shù),提供可信賴的內(nèi)部 3D 信息。大工作距離和空氣樣品環(huán)境使您可以輕松的進(jìn)行原位研究。
無損三維 X 射線成像允許在直接微觀結(jié)構(gòu)觀察下對同一樣品進(jìn)行重復(fù)成像
在原位設(shè)備中樣品成像保持低至 50nm 的高分辨率
用于斷層掃描重構(gòu)的圖像自動調(diào)整功能
視野可在 15 至 60 μm 的范圍內(nèi)進(jìn)行切換
吸收襯度和 Zernike 相位襯度成像模式
在實驗室中開發(fā)、準(zhǔn)備、測試你計劃的同步實驗,讓有限的同步輻射時間更加有效率
材料科學(xué)
對于高級材料的開發(fā):研究和預(yù)測材料特性和演變。表征復(fù)合材料,例如燃料電池,聚合物及復(fù)合材料的三維結(jié)構(gòu)。測量和確定孔隙,裂縫,相位分布等。通過吸收襯度成像來區(qū)分密度不同的材料。
自然資源
石油與天然氣鉆井的可行性研究:進(jìn)行虛擬巖心分析,縮短獲得研究結(jié)果的時間。相比傳統(tǒng)的巖心分析,測量地質(zhì)樣品的納米孔結(jié)構(gòu)只需要花費幾個小時。使用 Ultra 系列顯微鏡進(jìn)行流體模型納米級分析以獲得亞微米成像。
生命科學(xué)研究
Xradia 800 Ultra可提供生物樣品如骨和軟組織的微觀組織結(jié)構(gòu),分辨率低至50納米。具有優(yōu)良的對比度,可對多種材料進(jìn)行納米級三維X射線成像,如應(yīng)用于藥物傳遞的聚合物、組織樣品、用于組織工程的支架。
電子學(xué)
Xradia 800 Ultra為半導(dǎo)體樣品的電子封裝研究和開發(fā)提供可視化成像