Crossbeam系列電子顯微鏡
發(fā)布時間: 2010-03-05 13:56
Crossbeam 開放式編程接口能讓您訪問幾乎所有的顯微鏡參數(shù)。
通過系統(tǒng) PC 或遠程工作站上的用戶自定義程序來完全控制電子和離子光學(xué)器件、載物臺、真空系統(tǒng)、探測器及掃描與圖像采集
利用遠程應(yīng)用程序接口定制蔡司 Crossbeam 工作站
Crossbeam 開放式編程接口能讓您訪問幾乎所有的顯微鏡參數(shù)。
通過系統(tǒng) PC 或遠程工作站上的用戶自定義程序來完全控制電子和離子光學(xué)器件、載物臺、真空系統(tǒng)、探測器及掃描與圖像采集。
在更短時間內(nèi)收集更豐富的信息
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加快納米斷層成像和納米加工的速度:將低電壓 SEM 性能與高達 100 nA 的 FIB 束流相結(jié)合。
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獲取最豐富的信息:運用多探測器采集及同步刻蝕與成像能力。
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使用 GEMINI 技術(shù)和可選配的 ATLAS 3D 軟件包檢測高達 50 k x 40 k 像素的大視野范圍。
全方位流程控制
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在對環(huán)境條件要求苛刻的長時間實驗中具備最高穩(wěn)定性,并能夠提供均勻一致的光束剖面。
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采集時可以完成系統(tǒng)參數(shù)的實時更改,如探針電流或加速電壓,而無需對圖像進行調(diào)整。
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圖形用戶界面操作直觀簡便。
具有最高靈活度
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通過選用大量的探測器和附件實現(xiàn)系統(tǒng)快速升級。
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針對不同的原位實驗來定制您的系統(tǒng)。
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開放應(yīng)用程序接口(API)能讓用戶訪問每個顯微鏡參數(shù)。
配有 GEMINI I VP 鏡筒的 Crossbeam 340
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在多用途環(huán)境下實現(xiàn)最大樣品靈活性。
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執(zhí)行放氣或充電樣品的的原位實驗。
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可選配的 Inlens Duo 探測器能夠提供獨一無二的 GEMINI 材料襯度。
配有 GEMINI II 鏡筒的 Crossbeam 540
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配有雙聚光鏡系統(tǒng),即便在低電壓和高束流下仍能提供高分辨率。
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借助高分辨率成像和快速分析在更短時間內(nèi)獲取更豐富的信息。
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同步 Inlens SE 和 EsB 成像可以提供獨特的形貌和材料襯度。
執(zhí)行材料燒蝕與加工
借助可選激光組件升級 Crossbeam 系統(tǒng)來獲得最快速的大規(guī)模燒蝕技術(shù)。與高束流 FIB 組合,實現(xiàn)從毫米級到納米級的功能結(jié)構(gòu)加工,如微流體裝置和微電子機械系統(tǒng)。
為后續(xù)加工任務(wù)提供更深層次的信息,或者加工會因機械制備引起臟污、分層或壓縮的柔軟樣品。借助 Crossbeam 和激光選件,在無縫集成的單臺系統(tǒng)內(nèi)執(zhí)行材料燒蝕與加工。
利用遠程應(yīng)用程序接口定制蔡司 Crossbeam 工作站
Crossbeam 開放式編程接口能讓您訪問幾乎所有的顯微鏡參數(shù)。
通過系統(tǒng) PC 或遠程工作站上的用戶自定義程序來完全控制電子和離子光學(xué)器件、載物臺、真空系統(tǒng)、探測器及掃描與圖像采集。