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Xradia Synchrotron系列 X射線顯微鏡
    發(fā)布時間: 2010-03-03 14:50    
蔡司 Xradia Synchrotron 解決方案將納米級 X 射線成像技術(shù)引入到同步輻射實驗室中，讓耗時且耗費財力的自主研發(fā)成為過去。專屬的 X 射線光學(xué)器件和成熟的三維 X 射線顯微技術(shù)，使超亮的可調(diào) X 射線光束在現(xiàn)代化的同步輻射實驗室內(nèi)得以綜合應(yīng)用。借助優(yōu)于30 nm 的分辨率在多種襯度模式下完成快速的非破壞性三維成像。Xradia Synchrotron 系列包含成像和掃描顯微鏡，覆蓋從軟 X 射線到硬 X 射線的寬波長范圍。
Xradia Synchrotron系列 X射線顯微鏡

在同步輻射實驗室內(nèi)實現(xiàn)能量可調(diào)的超高分辨率三維成像

蔡司 Xradia Synchrotron 解決方案將納米級 X 射線成像技術(shù)引入到同步輻射實驗室中，讓耗時且耗費財力的自主研發(fā)成為過去。專屬的 X 射線光學(xué)器件和成熟的三維 X 射線顯微技術(shù)，使超亮的可調(diào) X 射線光束在現(xiàn)代化的同步輻射實驗室內(nèi)得以綜合應(yīng)用。借助優(yōu)于30 nm 的分辨率在多種襯度模式下完成快速的非破壞性三維成像。Xradia Synchrotron 系列包含成像和掃描顯微鏡，覆蓋從軟 X 射線到硬 X 射線的寬波長范圍。

斷層成像、熒光、冷凍技術(shù)

Xradia 800 Synchrotron：硬 X 射線納米斷層成像技術(shù)
三維 X 射線斷層成像能夠提供內(nèi)部結(jié)構(gòu)的詳細(xì)體積數(shù)據(jù)，而無需對感興趣的區(qū)域進(jìn)行切割或切片處理。工作能量范圍為 5-11 keV，可利用 <30 nm 的分辨率對不同種類的樣品成像，包括電池和燃料電池的電極材料、催化劑及軟硬組織等。Xradia 800 Synchrotron 是先進(jìn)技術(shù)的理想之選 ，如用于三維化學(xué)分布和原位成像的 XANES 光譜學(xué)-顯微成像技術(shù)，能夠讓您在實際操作環(huán)境條件下研究材料特性。

Xradia 825 Synchrotron：軟 X 射線納米斷層成像技術(shù)
在軟 X 射線波長范圍內(nèi)完成三維斷層成像，包括能量從“水窗”波段到2.5 keV 的中能波段，非常適合于完整細(xì)胞和組織的結(jié)構(gòu)成像。低溫樣品處理可以實現(xiàn)對含水樣品進(jìn)行成像，在盡可能保持樣品接近自然狀態(tài)的情況下，最大限度地減少輻射損傷的影響。其他應(yīng)用還包括有機和無機材料的化學(xué)態(tài)分布及磁疇成像。

Xradia 835 Synchrotron：X 射線熒光顯微技術(shù)
硬 X 射線納米探針非常適合于借助超高靈敏度進(jìn)行痕量元素分布和定量分析的應(yīng)用。這類應(yīng)用可能包含金屬和功能性納米顆粒在健康與疾病領(lǐng)域中的效用、植物內(nèi)攝入的重金屬、太陽能電池及其它功能性材料中的污染和缺陷。Xradia 835 Synchrotron 是一套靈活且可擴(kuò)展的平臺，它將蔡司波帶片光學(xué)器件與 X 射線熒光、光譜和衍射等已有的分析技術(shù)相結(jié)合。低溫樣品處理能在需要高分辨率成像的生命科學(xué)應(yīng)用中最大限度地減少輻射損傷的影響。

利用蔡司成熟的同步輻射平臺，將更多的時間和精力投入到研究中，而非把財力和時間浪費在內(nèi)部自主開發(fā)上。

根據(jù)研究任務(wù)需求，選擇最適合的三維 X 射線顯微技術(shù)平臺。


Xradia 800 Synchrotron：硬 X 射線納米斷層成像技術(shù)
綜合運用 <30 nm 的分辨率完成非破壞性三維斷層成像，在無需對感興趣的區(qū)域進(jìn)行切割或切片處理的情況下獲取樣品的詳細(xì)體積數(shù)據(jù)

體驗先進(jìn)技術(shù)的靈活性并對大量樣品進(jìn)行原位成像，借助卓越的圖像品質(zhì)和高效性能來了解實際操作環(huán)境條件的影響

使用 XANES 光譜二維成像來表征電化學(xué)器件或催化劑中氧化狀態(tài)


Xradia 825 Synchrotron：軟 X 射線納米斷層成像技術(shù)
使用“水窗”波段對自然潮濕環(huán)境中的有機樣品進(jìn)行高襯度成像

對完整細(xì)胞和組織的結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像，使用低溫樣品處理最大限度地減少輻射損傷的影響

關(guān)聯(lián)光學(xué)熒光顯微技術(shù)，用以對結(jié)構(gòu)和功能進(jìn)行組合關(guān)聯(lián)成像

Xradia 835 Synchrotron：X 射線熒光顯微技術(shù)
Xradia 835 Synchrotron 是一套靈活且可擴(kuò)展的平臺，它將蔡司專屬的光學(xué)器件與 X 射線熒光、譜學(xué)和衍射等分析技術(shù)相結(jié)合

借助超高靈敏度進(jìn)行痕量元素的二維分布和定量分析

在利用低溫樣品處理技術(shù)最大限度地減少生物樣品內(nèi)輻射損傷的同時以優(yōu)至 30 nm 的分辨率進(jìn)行成像

Xradia 800 Synchrotron
 		Xradia 825 Synchrotron
 		Xradia 835 Synchrotron
材料科學(xué)
 		在充放電周期內(nèi)，監(jiān)測工作中電池的電極顆粒。催化劑顆粒的原位化學(xué)成像。在工作溫度下，原位分析固體氧化物燃料電池的納米結(jié)構(gòu)。
 利用光譜學(xué)-顯微成像技術(shù)實現(xiàn)聚合物的化學(xué)成像。
 在結(jié)晶納米結(jié)構(gòu)中研究應(yīng)力和應(yīng)變。對太陽能電池中的納米級缺陷進(jìn)行成像。表征納米級水泥結(jié)構(gòu)。
生命科學(xué)
 		研究在細(xì)胞和組織內(nèi)納米顆粒的毒性。對骨頭的納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像和定量分析。
 觀察完整且未經(jīng)切片處理的含水細(xì)胞內(nèi)的超微結(jié)構(gòu)。關(guān)聯(lián) X 射線與光學(xué)熒光顯微技術(shù)用于結(jié)構(gòu)和功能的組合成像。
 通過細(xì)胞和組織內(nèi)痕量金屬元素的二維分布來研究疾病，藥物，毒理和攝入的納米粒子和其他感興趣的課題。
自然資源、地質(zhì)和環(huán)境科學(xué)
 		在地球靠內(nèi)的地幔環(huán)境條件下觀察鐵熔融的表面形態(tài)。研究與保水性相關(guān)的土壤顆粒的微觀結(jié)構(gòu)。
 在潮濕環(huán)境下研究微生物。
 研究植物內(nèi)攝入的重金屬。執(zhí)行納米毒性分析，以幫助實現(xiàn)生物修復(fù)解決方案。
電子學(xué)
 對集成電路成像，以查找蓄意修改之處。
 進(jìn)行磁疇的納米成像。
 對半導(dǎo)體內(nèi)的晶格畸變進(jìn)行納米成像。



?產(chǎn)品類別