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Millitrac顆粒圖像分析儀
    發(fā)布時間: 2010-04-21 11:05    
產品編號:
52517482416
產品名稱:
顆粒圖像分析儀
規(guī)  格:
Millitrac
產品備注:
原產地:美國
Millitrac顆粒圖像分析儀
  產 品 說 明
技術參數(shù)
測量范圍:90 - 13,200μm 
測量技術:單色CCD圖像分析技術 
重復性:誤差≤1.5%,分析精度:30通道 
掃描速度:60循環(huán)/10秒 
測量時間:1-9,999秒,用戶可選 
直接干粉進樣分析,樣品可回收 
實時圖像處理,操作直觀方便 
報告形式:體積/數(shù)量粒度分布,等效圓形面積直徑,橢圓長短徑比,橢圓長/短軸長,圓度等 


 主要特點
 專利Tri-Laser激光系統(tǒng), 完全消除了不同波長光源對顆粒散射光分布“連接點”的影響和
多次米氏理論(Mie Theory)數(shù)學處理的誤差(米氏理論處理與波長有關)。 
 固定多元檢測器與三激光光源的靈巧配置,無需掃描,同步接受全量程散射光信號,保證分
析結果的高重現(xiàn)性及全量程范圍的高分辨率。 
 首家引進“非球形”顆粒概念對米氏理論計算的校正因子,內置常用分析物質光學數(shù)據(jù)庫,
提高顆粒粒度分布測試的準確性。 
 系統(tǒng)自動對光,內置輔助光源用于檢驗和校正檢測器的靈敏度。 
 多種樣品分散系統(tǒng)可供選擇,各種分散系統(tǒng)之間的轉換簡單方便,結果穩(wěn)定一致。 
 現(xiàn)代模塊式設計,可根據(jù)實際應用需要允許選擇儀器的配置,以滿足將來的任何需要。 
 數(shù)據(jù)處理靈活方便,體積分布,數(shù)量分布和強度分布,微分與累計百分比以及其他綜合報告
形式任意組合,數(shù)據(jù)存儲兼容性強。 
 NIST(National Institute of Standards & Technology)標準物質指定認證儀器。

 儀器介紹
美國Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析儀,原理上采用經典靜態(tài)光散射技術和全程米氏理論處理,利用現(xiàn)代模塊式設計理念,使用獲得專利的三激光光源技術,配備超大角度雙鏡頭檢測系統(tǒng),以對數(shù)方式排列151個高靈敏度檢測單元,無需掃描,平行通道實時接受散射光信息,提供準確可靠的測量信息。多種分散方式可選,干法與濕法測量之間的轉換,系統(tǒng)自動識別,方便快捷。S3500系列儀器完全符合ISO 13320-1粒度分析-激光衍射方法的技術標準及21 CFR PART 11 安全要求,并被榮幸地指定為NIST標準物質認證儀器。
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