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Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀
    發(fā)布時間: 2010-04-21 11:02    
產(chǎn)品編號：
5251753016
產(chǎn)品名稱：
納米/Zeta電位分析儀
規(guī)　　格：
Zetatrac
產(chǎn)品備注：
原產(chǎn)地：美國
Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀
  產(chǎn) 品 說 明
技術(shù)參數(shù)
粒度范圍：0.8納米－ 6.5微米 
Zeta 電位測量：+/- 5mv 
電泳遷移：+/- 0.4 μs/volt/cm 
重復(fù)性：誤差小于1%（標(biāo)準(zhǔn)顆粒） 
測量原理：動態(tài)光背散射技術(shù)及米氏理論 
專利技術(shù)：HDF，CRM，F(xiàn)FT，“Ｙ”型光纖光路設(shè)計，“非球形”顆粒校正選項，微電場設(shè)計技術(shù) 
檢測角度：180o 
濃度范圍：0.1ppm – 40wt% 
分析時間：30-120 秒 
光源：3mW 780nm 半導(dǎo)體光纖 
樣品體積：0.2ml 
操作軟件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 
國際標(biāo)準(zhǔn)：ISO 13321 
環(huán)境溫度：10oC to 35oC 
相對濕度：小于90%

 主要特點(diǎn)
﹡ 專利的異相多譜勒頻移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技術(shù)，比較傳統(tǒng)的多譜勒頻 
移分析方法，獲得顆粒散射信號的強(qiáng)度高出幾個數(shù)量級，提高分析結(jié)果的可靠性 
﹡ 專利的可控參比方法(CRM, Controlled Reference Method)，能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能 
譜，確保分析的靈敏度 
﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計，避免了多重散射現(xiàn)象，保證高濃度溶液中納米顆粒測 
試的準(zhǔn)確性 
﹡ 先進(jìn)的“Y型”光纖光路系統(tǒng)，精確聚焦藍(lán)寶石測量窗口，有效消除雜散光對檢測器的負(fù)面影響 

﹡ 專利的快速傅利葉變換算法(FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method)，迅速處理檢 
測系統(tǒng)獲得的光譜，縮短分析時間 
﹡ 首家引進(jìn)“非球形”顆粒概念對米氏理論計算的校正因素，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫，提 
高顆粒粒度分布測試的準(zhǔn)確性 
﹡ 符合甚至部分超過ISO 13321 激光粒度分析國際標(biāo)準(zhǔn)－納米分析部分 
﹡ 符合甚至部分超過21 CFR PART 11 安全要求及FDA標(biāo)準(zhǔn) 

 儀器介紹
30多年來，Microtrac 公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年，納米顆粒分析儀器，NPA首次引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生的能譜概念，利用
背散射(Back-scattered)和異相多譜勒頻移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技術(shù)
，結(jié)合動態(tài)光散射理論和先進(jìn)的數(shù)學(xué)處理模型，取代傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜(PCS,Photon Correlation Spectroscopy)方法，將分析范圍為延伸至0.003-6.5μm。隨著技術(shù)的發(fā)展，Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業(yè)顆粒分析儀器，快速分析高濃度的納米顆粒，生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實，成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。  
應(yīng)用領(lǐng)域：  
有機(jī)聚和物和高分子研究，納米金屬和其他納米無機(jī)物，結(jié)晶分析，表面活性劑膠束大小，蛋白質(zhì)，甾體，DNA，RNA，極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。 
?產(chǎn)品類別